海山富钴结壳标准物质研制

报道了我国与俄罗斯合作研制的三个海山富钴结壳标准物质GSMC-1,2,3.这三个标准物质的原样分别取自西太平洋麦哲伦海山和中太平洋海山.样品经风干、选配、球磨制备成均匀的粉体样品,其均匀性采用高精度的X-射线荧光光谱法检验.样品的化学组分采用国内外多实验室协同分析方式定值,有八个国内实验室和八个国外实验室参加了合作分析.测试组分均为57个,其中GSMC-1,2有43个组分定为保证值,10个组分作为参考值;GSMC-3有45个组分定为保证值,8个组分作为参考值.经2a多的试用,三个标准物质已于2005年被国家计量部门批准为国家一级标准物质,其编号分别为GBW07337,GBW07338和GBW07339.     

海绵骨针特性及其仿生学研究

海绵是生长在海洋或淡水环境中的一种最简单的多细胞生物，3个主要海绵纲中有2个纲的海绵其主要骨架与支撑是玻璃纤维状的硅质骨针。近年来，人们发现了硅质海绵骨针独特的微结构及良好的光纤特性，特别是指出了这些特性给人类带来制造光纤的新思路，并很快引起了科学家对其结构、特性、生长机制与调控的生物学、生矿物学和仿生学的广泛研究兴趣。评述了海绵骨针内部结构和光学特性的发现、海绵骨针研究的热点领域及研究意义，并简要介绍了海绵骨针的国内外研究概况及主要工作。     

关注地质分析文献，了解分析技术发展——地质分析综合性评述论文评介

现代地学已进入地球系统科学研究时代,它涉及到天、地、生的广阔研究领域,是一个综合性很强的学科[1]。地学理论的发展将越来越多地需要用高新技术所获取的高质量、海量观测和分析数据。海量地球化学数据就是其最重要的基础数据之一。地质体归根到底是由化学元素构成的,而且几乎包含了天然存在的所有元素。化学元素的组成、配比、迁移和演化都与一定的地质过程相关联。而要获取这些基础数据和信息,就需要现代地质分析技术的支持。因此当今越来越多的地学家关注着地质分析技术的发展。另一方面,现代地质分析技术已远不是过去的以化学法为主的…     

深海沉积物中的碲异常

碲在地球上是一种稀有分散元素,碲在地壳中的丰度很低,仅为1.0ng/g;但碲在富钴结壳、海底多金属结核、深海沉积物和陨石中的丰度异常高。为了查明深海沉积物中碲异常的原因,我们对比分析了深海沉积物中磁性部分与全岩的碲含量和氦同位素组成。结果显示磁性部分的He含量和3He/4He比值及Te含量较全岩的值明显偏高;3He含量与Te含量同步变化;在3He-Te关系图上,二者具明显的正相关关系。首次提出深海沉积物中的碲异常与氦同位素异常一样可能是由宇宙尘注入引起的;海底多金属结核和富钴结壳中的碲异常可能也与宇宙尘有关。深海沉积物中的碲异…     

恐龙蛋化石物质组分研究

研究了ＸＬ０１恐龙蛋化石蛋腔内壁和腔内絮状物质的无机组分。采用常规的双目实体显微镜、偏光显微镜及扫描电子显微镜、电子探针和Ｘ光衍射仪，对蛋腔内主要三种矿物物相的物理性质、化学组成及矿物晶体结构进行了研究。并对腔内的矿物形态、结构特点及有利于有机大分子ＤＮＡ保存的条件做了讨论     

太平洋多金属结核及沉积物标准物质研制

太平洋多金属结核及深海沉积物标准物质,ＧＳＰＮ－２,３和ＧＳＭＳ－２,３,４个样品已研制完成。ＧＳＰＮ－２,３和ＧＳＭＳ－２采自太平洋ＣＣ区,ＧＳＭＳ－３采自中太平洋海盆（ＣＰ区）。原样被加工成－２００目（７４μｍ）的均匀粉未,其均匀性采用高精度的Ｘ射线荧光光谱法检测。样品的特性值采用国内外多实验室协同分析的方式定值,有包括台湾大学在内的１４个国内实验室和１８个国外实验室参加了合作分析。测试组分分别达７９和８１个,定值组分６３个。全组分的百分总和分别为：９９．７％,９９．５％,９９．８％和９９．７％。这４个标准物质已于１９９７年被国家技术监督局批准为国家一级标准物质,序号分别为ＧＢＷ０７２９５,ＧＢＷ０７２９６,ＧＢＷ０７３１５和ＧＢＷ０７３１。     

X荧光分析地质样品时的制样方法

近年来,X射线荧光(XRF)分析技术的迅速发展和在地质样品分析中的广泛应用,特别是在岩石全分析和化探样品分析中已经发挥的作用使不少岩矿分析者产生了兴趣。人们看到,它不再像二十年前认为的那样,只是测定化学上较难分离的铌、钽、锆、铪和稀土等元素的有效方法,而已成为能测定多种类型地质样品中主要,次要和许多痕量元素的强有力的常规分析手段。要充分发挥这类高效能仪器作用,就需要更多的分析者了解它,使用它。要熟练地掌握XRF分析技术是要经过学习和专门训练的。但这种自动仪器发展的一个突出特点是:内部结构和控制系统复杂,而使用和操作却越来越简单。因此用已建立的方法和编好的程序进行日常分析比其他方法更容易掌握。     

X射线荧光痕量分析中的背景问题

X射线荧光分析中最基本的测量是X荧光辐射的强度。在元素分析线角度处测得的强度并不都是样品中该元素的贡献,除元素分析线的强度(净强度)之外的计数统称为     

X射线荧光痕量分析中的背景问题

X射线荧光分析中最基本的测量是X荧光辐射的强度。在元素分析线角度处测得的强度并不都是样品中该元素的贡献,除元素分析线的强度(净强度)之外的计数统称为背景。 在痕量分析中,背景在分析线强度中占有很大比例。尤其是在检出限附近,背景强度接近于分析线强度。这时背景的测量、校正和扣除等,就成为影响分析结果的重要因