X射线荧光痕量分析中的背景问题

X射线荧光分析中最基本的测量是X荧光辐射的强度。在元素分析线角度处测得的强度并不都是样品中该元素的贡献,除元素分析线的强度(净强度)之外的计数统称为     

现场X射线测量勘查金矿

应用放射性同位素X射线荧光方法,可以在现场测量金矿中指示元素砷、铜或其他元素的荧光强度。金与其指示元素之间具有相当好的相关性。放射性同位素X射线荧光法利用这种相关性,在普查和勘探金矿体时,通过直接测量指示元素的荧光强度来发现矿化地区和隐伏矿体。使用这种方法在现场不必取样送化学分析,从而加速了地质调查的进程并降低了勘探成本。     

X-射线荧光方法的现场测量

X-射线荧光技术的现场测量,原理基本上和室内样品分析是相同的,这就是根据特征X－射线能量的不同来区别不同的元素,根据元素的特征X－射线强度来测定该元素的含量。     

基于X射线荧光光谱法测定常见生物样品中常量和微量元素

基于大米、小麦、玉米等23种国家生物成分系列标准物质,探讨了X射线荧光光谱法在常见生物样品中常量和微量元素测定中的应用。在对各待测元素的激发电流电压、分析线、背景位置、干扰谱线、分析晶体、准直器、探测器和脉冲高度分布等条件进行分析的基础上,采用粉末压片法制样,基于回归曲线法和康普顿散射线内标法求取各待测元素的标准曲线常数、元素间吸收效应的影响系数和谱重叠系数。结果表明:国家生物成分系列标准物质具有足够宽的含量范围和适当的含量梯度,基本能覆盖常见生物样品中各元素的含量范围。方法检出限能够保证测定结果的有效性,测量精密度为2.62%～14.79%,且标准物质各元素的测定值与标准值基本相符。方法具有简便、灵敏和准确的特点,能够满足分析的需求。     

X射线荧光技术在锑矿上的应用

应用轻便X射线荧光仪和X射线荧光测井仪,在我国某锑矿上进行了试验.对锑矿粉末样品、锑的化探样品、原始产状锑矿X射线取样、块状岩心及充满泥浆的锑矿钻孔进行了分析测量,并与化学分析比较,结果十分一致.特别是在消除基体效应方面取得了良好的效果. 放射性同位素X射线荧光技术在地质勘探工作中应用的特点是:仪器轻便,射线防护简单,操作容易,便于现场使用,测量速度快,对样品中元素含量能进行定量或半定量测定.在普查找矿阶段,可用来对某些地质远景地段进行及时检查,从而加速岩体评价.在化探工作中,可对中等强度以上的化探分散晕异常地段和水系底部沉积物的淘洗重矿物进行半定量或定量测量,     

新一代手提式多元素X荧光仪在地质普查中的应用

现场X射线荧光分析的主要影响因素是基体效应，湿度效应和不平度效应等。基于室内、野外大量实验，结合软件技术，在新一代手提式元素X荧光仪中，综合运用强度影响系数法、特散比及经验系数法，使多元素现场X荧光快速分析技术取得实用性进展。地质大调查中，在样品多元快速测试，野外土壤、岩石的原位分析，异常追索查证等方面的应用，充分体现出轻便、快速、高效、低投入的效果。     

电子探针分析中一种新的背景测定法—背景计算法

在电子激发的X射线谱中,特征峰是重叠在背景谱上的。背景是射到靶上的电子减速而产生的初级连续X射线光谱。在电子探针定量分析中,测得的特征峰强度必须进行背景校正。波谱分析(WDA)中背景测量,以往是移动谱仪在特征峰的两侧,选取合适的测点进行测量得到,并用内插法求得峰下面的强度。这种办法测背景需时较长,而且     

X射线萤光光谱法测定铁矿石和岩石中的低、微量元素时基体成分影响的研究

用X射线荧光光谱法测定试样的主要成分时,主要是用数学校正法来校正基体成分对分析结果的影响,然而用数学校正法来分析试样中的低、微量元素是很困难的.分析试样中的低、微量元素,多数作者是采用散射内标法或加人内标法来校正基体效应.用散射内标法测定试样中的低、微量元素时,背景强度的变化往往影响分析结果的精确度,特别是分析元素靠近检出限时,分析元素能否检出以及测定结果的精确度如何,主要取决于背景强度的大小及背景测定的精确度.     

同步辐射X射线荧光光谱测定沉积物中元素含量的归一方法研究——以四海龙湾纹层沉积物为例

同步辐射X射线荧光光谱分析(SRXRF)是一种基于同步加速器光源与X射线荧光光谱分析(XRF)相结合的原位分析方法,可以直接对沉积物进行扫描获得每个点的能谱图,从而计算元素含量的相对变化.但是由于荧光光谱定性和定量分析中存在的问题,国内发表文献中各种XRF原位分析数据均以相对含量或者计数表示.本文通过对各种标准物质(土壤、沉积物和岩石)的SRXRF分析,结合标准样品的定量数据,对同步辐射X射线荧光光谱的定量方法进行了研究.鉴于元素质量数和谱线强度的差异,不同元素需要运用不同的归一方法.对于K和Ca元素,采用ROI0-195背景归一;Ti元素采用ROI293-303背景归一;Mn元素采用ROI214-222背景归一;而较高序数的元素Fe采用拟合康普顿散射峰归一.通过上述归一方法,我们获得了K、Ca、Ti、Mn和Fe元素的定量标准曲线,相关系数分别为0.89、0.98、0.96、0.93和0.98.运用标准样品对各元素的定量标准曲线进行检验,结果表明:Fe元素含量预测的平均相对偏差小于10％,K、Ca和Ti的平均相对偏差小于20％,Mn的相对偏差较大,为35.9％.从总体上看,SRXRF获得的数据可以基本满足湖泊沉积物中元素分析的定量化需求.为验证SRXRF方法能否揭示元素含量的季节性变化,我们对四海龙湾纹层沉积物进行了分析,按选定的归一方法计算样品中元素特征谱线的强度,利用各元素的标准曲线计算岩芯沉积物中元素含量.K、Ca、Ti、Mn和Fe元素含量具有明显的季节韵律变化,浅色碎屑微层中Ti和Ca含量较高,而Mn和Fe丰度的高值对应于暗色有机质-碎屑混合层.初步研究结果表明同步辐射X射线荧光光谱分析可以揭示湖泊中沉积的元素的季节性变化,对研究过去季节-年尺度的古气候、古环境变化具有重要的科学意义.     

黄铁矿和磁黄铁矿物的微量光谱分析法研究

本文研究了用发射光谱法分析微量黄铁矿和磁黄铁矿物中多种杂质元素的分析条件。应用BaCO_3作缓冲,结合使用快速曝光和分段曝光的方法,增强了易挥发元素的分析线强度,降低了光谱干扰和背景影响,提高了它们的线背比。拟定出仅用6mg矿物,即可同时测定黄铁矿和磁黄铁矿中23种杂质元素的分析方法,其中11种杂质元素的分析下限达ppm级。单次摄谱的相对标准偏差一般不超过10％。对照分析结果,证明无系统误差存在,是一个简便快速的微量光谱分析方法。     

高倍稀释熔融制样X射线荧光光谱测定钨砂和铬铁矿中主含量

用X射线荧光光谱测定钨砂中WO3和铬铁矿中Cr2O3,通过高倍稀释熔融玻璃片制样法,采用高纯WO3或Cr2O3作单一标准样测量X射线荧光强度计数,然后同未知样品测量所得X射线荧光强度计数相比,即可计算出WO3和Cr2O3的测量值.方法用于钨砂矿和铬铁矿中WO3和Cr2O3的测定,结果与标准值相符.     

X射线荧光技术在野外勘查金矿中的应用

介绍了现场X射线荧光勘查技术的理论基础、仪器设备和运用X荧光分析仪测量伴生或共生元素含量找金的方法应用。应用X射线荧光法在野外现场直接测定多元素含量的变化,列出金与其指示元素之间密切相关关系,可在野外现场圈定金矿远景区和追索隐伏矿体,具有重要意义。     

X射线荧光技术在胶东地区现场勘查金矿的研究

应用核物探X射线荧光技术，可以利用轻便型X射线荧光仪在野外原生产状条件下（在土壤中或原生露头上）直接测量，了解金矿的指示元素或指示元素总量（如砷、亲铜元素组和银组）的分布规律。由于金与其指示元素或其总量具有密切的相关关系，而且指示元素的分布范围宽广和深远，因     

便携式X荧光元素分析法在浅覆盖区萤石矿勘查中的应用与分析——以内蒙古乌力吉敖包萤石矿为例

随着现场X荧光元素分析技术的发展,便携式X荧光元素分析仪在野外矿产勘查工作中崭露头角。以内蒙古乌力吉敖包浅覆盖区的萤石矿为基础,开展现场X荧光勘查验证工作,通过元素异常分析和矿区实际情况对比得出以下结论:(1)便携式X荧光元素分析仪在浅层覆盖区勘查中具有较高的效率与精度;(2)连续的Ca元素异常对萤石矿脉具有良好的指示作用;(3)化探方法存在一定多解现象,但根据矿床类型并结合其他勘查方法可排除多解区域。     

X射线荧光光谱分析互标法无损检测黄金饰品

采用背景系数法扣除背景,黄金饰品放在丝网底托上,全面积照射方式测量,选择黄金饰品中Ａｕ作为内标元素,用相对质量分数和相对荧光强度回归标准工作曲线。对标准物质分析,取得了较为满意的结果。ω（Ａｕ）〉９６％的黄金饰品,测定绝对误差小于０．１％;１８Ｋ黄金饰品测定绝对误差小于０．５％。     

X荧光分析技术在航磁异常地面查证中的应用

西天山135号航磁异常点由于地质条件的限制,大型勘查设备测量和探槽揭露工作很难开展;此外,受气候条件限制,适合查证工作的时间较短。因此,采用X荧光分析技术结合传统物探方法的技术路线,在航磁异常查证阶段综合采用地面高精度磁法测量、γ能谱测量、野外现场X荧光快速分析和岩样物性分析方法完成航磁异常的检查。根据野外X荧光分析发现135号航磁异常西南部有新的铜元素含量异常点,结合现场踏勘捡样发现孔雀石矿化现象,判断135号航磁异常西南部有铜矿化点的存在。在铜矿化区域通过大比例尺现场X荧光分析快速定位两处新发现的铜异常,并圈定了矿化范围;在工程验证阶段采用"以钻代槽"技术,结合X荧光分析和微区X荧光分析方法研究矿化展布特征、矿物成分,评价矿化价值。通过135号航磁异常查证工作,结果表明X荧光分析技术是一种快速高效、经济的勘探方法,能够缩短野外勘查周期,高效地完成异常查证及矿产勘查工作。     

现场多参数X荧光测量在川西“金三角”地区快速追踪金异常源确定？…

采用微机化携带式多元素X荧光仪 ,通过现场进行多元素测量获取多种找矿信息。利用多种X荧光信息间的相互验证、相互补充 ,准确确定找矿靶位 ,提高了找矿成功率。在“金三角”地区的金矿找矿中 ,该技术取得了良好的找矿效果     

管激发X射线荧光仪在金矿勘察中的应用

介绍了采用小型X射线管激发源、电制冷Si-PIN探测器及笔记本微机能谱分析等最新技术的高灵敏度野外X射线荧光分析系统。使用该系统在四川某金矿进行初步勘探应用研究。利用成矿组分中高品位元素As与Au的密切相关关系，采用X射线荧光测量在现场快速划定金矿靶区的范围，同时可以指导野外地质采样。     

XRF法快速测定铁钛精矿中的Fe、Ti品位

介绍了XRF法(X射线荧光)在快速测定铁钛精矿样中Fe、Ti品位中的应用,用IED2000P型快速X荧光分析仪,分析目标元素特征X射线计数率与含量的关系,主要研究了基体效应对测量结果的影响。通过比较,选用特散比与经验系数法相结合做三元回归计算的数理模型,可较好地校正基体效应,其分析结果相对误差在0.2%以内,达到了实际生产的要求。     

X—射线荧光光谱分析铜精矿中的铜和铁

内标法在溶液、熔珠及粉末样品分析中已得到广泛的应用,尤其对多元混合物中单一元素的测定更为方便,已越来越多地被X—射线荧光分析工作者使用。对于主元素是Cu、Fe的铜精矿混合物,用X—射线荧光光谱直接测定粉末压片或熔珠,其结果与化学值比较,偏差甚大。当选择CoKa线作内标线,分析铜精矿,不但能使Fe的分析准确度大大提高,而且铜的分析也能得到满意的结果。 本试验用强度比R_(C_u),R_(F_e)(I_(C_uK_α)/I_(C_oK_α);I_(F_eK_β)/I_(C_oK_α))及强度值I_(C_uK_α)、I_(F_eK_β)及浓度建立