电子探针分析中一种新的背景测定法—背景计算法 |
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引用本文: | 董振亮.电子探针分析中一种新的背景测定法—背景计算法[J].世界地质,1986(2). |
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作者姓名: | 董振亮 |
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摘 要: | 在电子激发的X射线谱中,特征峰是重叠在背景谱上的。背景是射到靶上的电子减速而产生的初级连续X射线光谱。在电子探针定量分析中,测得的特征峰强度必须进行背景校正。波谱分析(WDA)中背景测量,以往是移动谱仪在特征峰的两侧,选取合适的测点进行测量得到,并用内插法求得峰下面的强度。这种办法测背景需时较长,而且
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