| X射线荧光痕量分析中的背景问题 |
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| 引用本文： | 梁国立,王毅民.X射线荧光痕量分析中的背景问题[J].岩石矿物学杂志,1984,3(3):262-265. |
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| 作者姓名： | 梁国立 王毅民 |
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| 作者单位： | 地质矿产部岩矿部测试技术研究所
(梁国立)，地质矿产部岩矿部测试技术研究所(王毅民) |
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| 摘 要： | X射线荧光分析中最基本的测量是X荧光辐射的强度。在元素分析线角度处测得的强度并不都是样品中该元素的贡献,除元素分析线的强度(净强度)之外的计数统称为
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The Background Problem in Trace Element Analysis by X-Ray Eluorescence Spectrometry |
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| Abstract: | This paper discusses the problems of background correction in the determin-
ation of trace elements for geological rock samples by X-Ray fluorescence spe-
ctrometiy. An approach of background correction- -inherent background and
background equation--was suggested and satisfactory result was obtained. |
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| Keywords: | |
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