现场X射线测量勘查金矿 |
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引用本文: | 章晔,谢庭周,周四春,黄国强.现场X射线测量勘查金矿[J].地质与勘探,1987(8). |
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作者姓名: | 章晔 谢庭周 周四春 黄国强 |
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作者单位: | 成都地质学院,成都地质学院,成都地质学院,成都地质学院 |
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摘 要: | 应用放射性同位素X射线荧光方法,可以在现场测量金矿中指示元素砷、铜或其他元素的荧光强度。金与其指示元素之间具有相当好的相关性。放射性同位素X射线荧光法利用这种相关性,在普查和勘探金矿体时,通过直接测量指示元素的荧光强度来发现矿化地区和隐伏矿体。使用这种方法在现场不必取样送化学分析,从而加速了地质调查的进程并降低了勘探成本。
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