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矽线石莫来石化的X射线定量分析 总被引：2，自引：0，他引：2
本文介绍用X射线粉晶衍射分析方法对夕线石在不同温度的烧制品中的莫来石进行定量分析;指出莫来石和矽线石的(220)峰可作为特征峰,并发现莫来石起始生成和完全莫来石化的温度随原料杂质和粒度因素而变化;认为d(020)=0.383 7nm,d(040)=0.191 7nm是矽线石JCPDS卡片中不曾标定的衍射峰,d(020)=0.3845nm是莫来石不曾标定的衍射峰,它们的强度变化是莫来石化行为特征之一。 相似文献
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