长杆电离室中心与CT机光束之距对CTDIw测量影响

目的:多排CT在轴扫条件下长杆电离室中心偏离X线束平面的距离对CTDIw测量精度的影响。方法:用满足IEC标准的头部体模(T6M164)和长杆电离室测量PhilipBrillianceiCT256在轴扫条件下不同偏移距离时测CTDIw,并分析对CTDIw偏差的因素。结果:在偏离距离在±1cm处,CTDIw的相对偏差在±5%以内;偏移距离在±3cm,相对偏差在-5%～15%之间;当偏移距离在±5cm时,CTDIw的测量偏差在40%～70%之间。结论:对CTDIw测量偏差影响较大的因素是偏移距离,而毫安秒和管电压对CTDIw测量偏差之间相关性低;毫安秒和管电压可能影响某个偏移距离处CTDIw测量偏差的区间范围;剂量在z轴上分布具有不对称性。