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针对传统叶面参数手工测量方法效率低、工作量大的缺点,设计了以ARM嵌入式系统为核心,利用CIS扫描技术实现的数字式叶面测量仪.实验结果表明,该仪器测量速度快、效率高、操作方便,具有良好的实用价值.使用该仪器时,叶片未被展平,长度测量码盘打滑,叶片未全部深入测量部件内,测量时拉动叶子速度太快等,均可造成测量误差.  相似文献   
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