Asymptotic edge-and-vertex diffraction theory

Uniformly asymptotic formulae for edge-and-vertex diffraction in the time-domain, involving elementary functions of time, traveltimes and GTD amplitudes, are derived. Explicit expressions for diffraction at a pyramid and a triangle are constructed. They can be applied to the numerical calculation of a field reflected and diffracted at 3-D objects with sharp edges and to reflection from triangulated surfaces. the computational cost is very low.     

地质样品中砷、镓、钴、镍、溴、氯、硫和氟的X射线荧光光谱法测定

本文叙述了XRF测定地质样品中微量As,Ga,Co,Ni,Br,Cl,S和F的分析方法。采用压片法制样。对As,Ga,Co,Ni和Br元素,用散射内标法校正基体效应,而对Cl,S和F元素则用经验系数法进行基体校正。各元素的探测限(ppm)分别为:As 2.7,Ga 2.4,Co 2.8,Ni 2.5,Br 1.0,Cl,S 5.0,F 500。方法的精密度和准确度与其它化学方法相当,是一种简便快速和较灵敏的分析方法。     

晶体点阵参数最小二乘法计算程序

作者以最小二乘法理法导出了晶体点阵参数计算的公式,并顾及了X射线粉晶衍射图测定所引起的系统误差修正,从而得到点阵参数的最佳估值。以导出的公式为数学模型编制了PC-1500微机的扩展BASIC语言程序,可适用于各晶系点阵参数的计算,使用方便。     

斜方辉石的反演畴结构对其衍射效应的影响

斜方辉石内部存在着众多的相邻间呈反演关系的(100)晶畴。这些晶畴的存在使斜方辉石的K为奇数的okl衍射之强度明显减弱,且参与衍射的晶畴的数目越多,其减弱的程度也就越大。这一现象在一定程度上掩盖了斜方辉石P2_(1ca)的真实对称性。与X射线衍射相比,利用电子衍射来研究斜方辉石的空间群类型具有明显的优越性。     

石英单晶无衍射样品板的研制

本文介绍了由作者首创、以石英单晶片制成的一种用于粉晶X射线衍射仪上薄膜样品的底托——单晶无衍射样品板。与常规的玻璃板或者多孔素瓷板及银滤膜等样品底托相比,后二者因系结晶物质,会产生自身的衍射峰;玻璃板则在2?15—37°(Cu靶)间有一个宽大的衍射晕,这些都影响样品衍射花样的准确测定。以平行于石英(11.21)面网切割制成的单晶片,在所测定的2?3一135°范围内不存在任何衍射峰,背景值分布十分平稳,且明显低于玻璃样品板。使用这种新型的单晶无衍射样品板,将有助于提高粉晶X射线衍射仪测定的精确度。     

黑硼锡镁矿孪晶的电子衍射分析

黑硼锡镁矿是1985年在我国发现的一种新矿物,微孪晶特别发育,其电子衍射斑点往往具规律的分裂现像。用选区电子衍射获得[010]、[141]和[121]定向带轴电子衍射斑点分裂图,经矩阵分析,确定两套斑点分裂是由其呈挛晶结构关系所致,孪晶面为(101),属于面律孪晶,这种孪晶的微形貌由明场像(BF)得到证实。根据不同取向的电子衍射图,确定该矿物属单斜晶系,a_0=10.7,b_0=3.01,c_0=5.39,β=94.5°。上述挛晶结构特征及其晶体学数据与X射线单晶研究结果有很好的可比性。     

X射线荧光光谱仪的性能检验

本文介绍了理学3080E型X射线荧光光谱仪性能检验的主要项目,说明了测量方法和技术指标。     

衍射指标h和k的互换问题

通过衍射线指标和面网指标的联系讨论了晶体的对称性对衍射指标h和k互换的影响。在下列情况下衍射指标h和k是不能互换的:在低级晶族;在四方晶系C_(4h)—4/m劳厄点群,六方品系C_(6h)—6/m劳厄点群和立方晶系T_h—m3劳厄点群对于hko和kkl型衍射;在三方晶系选取六方晶胞的情况下,在C_(3i)—3劳厄点群对于hol,okl,hko和hkl型衍射,在D_(3d)—3m劳厄点群对于holokl和hkl型衍射,以及在菱面体点阵除非h和k都是三的倍数。     

沉积岩中蒙脱石-伊利石混层矿物的SEM/EDAX分析

本文利用扫描电子显微镜与X射线能量色散分析联合法,对沉积岩中蒙脱石-伊利石混层矿物进行系统微区成分分析,求出混合层中伊利石的百分含量。