|
|||||
|
|
| X-射线荧光分析硅酸盐岩石的最佳精确度和准确度 | |
| 引用本文： | Bower,Nathan W.,姜桂兰.X-射线荧光分析硅酸盐岩石的最佳精确度和准确度[J].世界地质,1987(2). |
| 作者姓名： | Bower Nathan W. 姜桂兰 |
| 摘 要： | 作者用理学3064型谱仪测量了10个地球化学参考样品中的十种主要元素和12种痕量元素.确定了X-射线荧光测量的精确度.本文介绍一种采用新方程式评价影响分析精确度和准确度来源的完善方法.测量数据表明,对于许多次测量,要得到最小的分析误差(RSD为1％)计数时间一分钟为宜.同时,分析时间受样品制备误差的限制,延长分析时间其精确度反而变差. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |