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导线线圈的射线层析检测
引用本文:杨宝刚, 李建伟, 任华友, 金虎. 导线线圈的射线层析检测[J]. CT理论与应用研究, 2005, 14(1): 33-36.
作者姓名:杨宝刚  李建伟  任华友  金虎
作者单位:航天材料及工艺研究所,北京,100076;中国航空综合技术研究所,北京,100028
摘    要:本文选用不同的方法对两个导线线圈进行了射线检测,主要采用透射式工业CT检测和康普顿背散射成像检测两种射线层析检测方法,有效检测了导线线圈内部的缺陷情况,并指出射线层析检测作为一项新技术和新手段,可充分应用在航天产品的无损检测中。

关 键 词:导线线圈  射线层析检测  透射式工业CT检测  康普顿背散射成像
文章编号:1004-4140(2005)01-0033-04
收稿时间:2004-10-18
修稿时间:2004-10-18

X-ray Computed Tomography on Conducting Windings
YANG Bao-gang, LI Jian-wei, REN Hua-you, JIN Hu. X-ray Computed Tomography on Conducting Windings[J]. CT Theory and Applications, 2005, 14(1): 33-36.
Authors:YANG Bao-gang  LI Jian-wei  REN Hua-you  JIN Hu
Abstract:Some X-ray testing methods were used on conducting windings. The transmitting computed tomography and Compton back scattering tomography were used especially. The defects of conducting windings were tested effectively. By the way, it proved that the X-ray computed tomography can be used effectively in the non-destructive testing of aerospace products.
Keywords:conducting windings   computed tomography   transmitting computed tomography   Comptonback scattering tomography
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