| 钾膨胀石墨层间化合物（K—EGICs）的电阻率测量 |
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| 引用本文： | 孔洪亮,陈代璋,等.钾膨胀石墨层间化合物（K—EGICs）的电阻率测量[J].岩石矿物学杂志,2001,20(2):167-170. |
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| 作者姓名： | 孔洪亮 陈代璋 |
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| 作者单位： | [1]中国科学院地质与地球物理研究所，北京100029 [2]中国地质大学矿物岩石材料开发应用国家专业实验室，北京100083 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(59572022) |
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| 摘 要： | 在低温惰性条件下合成的钾膨胀石墨层间化合物（K-EGICs)的电学性能与膨胀石墨的电学性能完全相反，随着温度的升高，K-EGISs的电阻率逐渐升高，电码导率逐渐降低，这一现象是由客体材料钾自身的结构及其与膨胀石墨化合时的键性决定的。
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| 关 键 词： | 钾膨胀石墨 层间化合物 电阻率 电导率 温度 |
| 文章编号： | 1000-6524(2001) 02-0167-04 |
| 修稿时间： | 2000年6月20日 |
The Resistivity Measurement of Potassium-Expanded Graphite Intercalation
Compounds (K-EGICS) |
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