偏、反光显微镜上必须配备的新附件—MM-1型显微刻样器 |
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引用本文: | 周剑雄,方业龙.偏、反光显微镜上必须配备的新附件—MM-1型显微刻样器[J].岩石矿物学杂志,1983,2(2):124-124. |
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作者姓名: | 周剑雄 方业龙 |
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作者单位: | 中国地质科学院矿床地质研究所
(周剑雄),中国地质科学院矿床地质研究所(方业龙) |
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摘 要: | MM-1型显微刻样器是国内首次试制的新产品,是偏反光显微镜上的一种新附件。该刻样器主要用于在显微镜下对矿物岩石光薄片表面刻划标记.以指示所需的目的物,解决在电子探针、扫描电镜、离子探针等微区分析时找样难的问题,节省送样和分析人员的工作时间,增加有效机时。同时,可以提高找样的正确率,减少返工,
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