关于用镜质体反射率恢复地层剥蚀厚度的问题讨论 |
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作者姓名: | 何生 王青玲 |
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作者单位: | 中国地质大学 武汉 |
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摘 要: | Wallace G.Dow 1977年提出在半对数直角座标系下,利用实测的镜质体反射率(R_0%)与其对应深度(H)的线性相关关系回归直线即称成熟度剖面估算地层剥蚀厚度的方法。本文根据镜体反射率主要受热力,其次受有效加热时间的影响且具不可逆性,对Dow的方法从理论到应用上作了进一步的探讨,并给出了通过镜质体反射率与深度的线性关系恢复地层剥蚀厚度的三种方法。
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关 键 词: | 镜质体反射率 地层剥蚀 厚度恢复 |
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