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| 精确测定钾长石的费氏台砂薄片法简介 | |
| 引用本文： | 赵鸿.精确测定钾长石的费氏台砂薄片法简介[J].湖南地质,1989,8(2):56-60. |
| 作者姓名： | 赵鸿 |
| 作者单位： | 湖南省地质矿产局区调所 |
| 摘 要： | 钾长石的2V和N_g∧⊥(010)、N_g∧⊥(001)的夹角是结构状态的函数,能够表明T_1四面体上Si-Al的有序度,具有重要的地质意义。在砂薄片上选取近于垂直a轴(近于垂直锐角等分线N_p)的钾长石碎屑,具有易于判定消光位的干涉色,取得清晰的干涉图象。在费氏台上用锥光法和四轴法能精确测定这些光学数据。此方法操作简便,精度可靠(误差在2°以内),是一种好的光学方法,值得推广。 |
| 关 键 词： | 钾长石 费氏台 砂薄片 有序度 |
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