关于光学测微器分划差的检验

光学测微器（尺）分划差，实际上包含着测微器几种误差的综合影响。对于双平行玻璃板测微器（如T_3、OT-02、T_2型光学经纬仪），分划误差可能包含有：阿基米德螺线槽制造上的误差、螺线槽的偏心差、平行玻璃板表面不规正的误差以及测微器分划的刻划误差等；对于双光楔型测微器（如The010光学经纬仪）则可能含有光楔面不规正影响及分划尺的刻划误差。一般说来，测微器的刻划误差是很小的，最多仅能达到分格值的1/10。但是，上述各种因素的总影响，就可使分划误差达到1″甚至1″以上。因此，光学测微器分划误差在很大程度上反映了测微器的结构质量，成为衡量测微器优劣的一个重要标准。