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| X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素 | |
| 引用本文： | 邹海峰, 苏克. X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素[J]. 岩矿测试, 1998, (3): 207-210. |
| 作者姓名： | 邹海峰 苏克 |
| 作者单位： | 长春科技大学应用理学院化学系,长春,130026 |
| 摘 要： | 采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样，Ｘ射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素Ａｓ、Ｇａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｙ、Ｃｅ、Ｗ、Ｍｏ、Ｓｎ、Ｃｏ和Ｐｂ。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数，使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测１１个元素的检出限在（０．３０～２．０２）×１０－６水平，精度（ＲＳＤ，ｎ＝１１）在０．９５％～１３．０％。方法经国家一级标准物质分析验证，结果与标准值相符。 |
| 关 键 词： | X射线荧光光谱法 地质样品 痕量元素 |
| 修稿时间： | 1997-07-21 |
Determination of Trace Elements in Geochemical Samples by XRF |
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| Determination of Trace Elements in Geochemical Samples by XRF[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (3): 207-210. | |
| Authors: | Zou Haifeng Su Ke Jiang Guilan Xiao Guoshi Ji Guijuan |
| Abstract: | |
| Keywords: | X ray fluorescence spectrometry(XRF) trace element geological sample |
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