| X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素 |
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| 引用本文： | 邹海峰,苏克.X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素[J].岩矿测试,1998,17(3):207-210. |
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| 作者姓名： | 邹海峰 苏克 |
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| 作者单位： | 长春科技大学应用理学院化学系,长春,130026 |
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| 摘 要： | 采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样，Ｘ射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素Ａｓ、Ｇａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｙ、Ｃｅ、Ｗ、Ｍｏ、Ｓｎ、Ｃｏ和Ｐｂ。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数，使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测１１个元素的检出限在（０．３０～２．０２）×１０－６水平，精度（ＲＳＤ，ｎ＝１１）在０．９５％～１３．０％。方法经国家一级标准物质分析验证，结果与标准值相符。
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| 关 键 词： | X射线荧光光谱法 地质样品 痕量元素 |
| 修稿时间： | 1997-07-21 |
Determination of Trace Elements in Geochemical Samples by XRF |
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| Zou Haifeng,Su Ke,Jiang Guilan,Xiao Guoshi,Ji Guijuan.Determination of Trace Elements in Geochemical Samples by XRF[J].Rock and Mineral Analysis,1998,17(3):207-210. |
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| Authors: | Zou Haifeng Su Ke Jiang Guilan Xiao Guoshi Ji Guijuan |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X ray fluorescence spectrometry(XRF) trace element geological sample |
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