| 地质样品X射线荧光分析中的背景相关曲线及其应用 |
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| 引用本文： | 詹秀春,陈永君,郑妙子,周伟,李迎春,李冰. 地质样品X射线荧光分析中的背景相关曲线及其应用[J]. 岩矿测试, 2003, 22(3): 161-164 |
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| 作者姓名： | 詹秀春 陈永君 郑妙子 周伟 李迎春 李冰 |
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| 作者单位： | 国家地质实验测试中心,北京,100037 |
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| 基金项目： | 国土资源部地质大调查项目(DKD9904017) |
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| 摘 要： | 采用粉末压片-X射线荧光法,测量了水系沉积物、土壤、岩石等国家一级标准物质。对用LiF(200)晶体在20.70°～48.00°衍射角(2θ)得到的X射线背景数据进行了研究。以30.97°和25.70°(2θ)为参考背景角度,进行了背景曲线的幂函数拟合,背景相对强度的拟合回代值与实测值的相对误差小于2.6%,多数小于1%。利用该拟合函数,可以计算出20.70°～48.00°内任意两个角度下的背景比值(背景系数)。因此,实验中可以根据情况选取合适的公共背景角度,并用拟合函数计算各元素谱峰角度处的背景系数。可采用公共背景法的元素数为13个左右,适当延长公共背景点的测量时间,可以降低背景的统计涨落。
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| 关 键 词： | 地质样品 X射线 荧光分析 背景相关曲线 |
| 文章编号： | 0254-5357(2003)03-0161-04 |
| 修稿时间： | 2002-11-21 |
Background-Related Curve in the X-Ray Fluorescence Spectrometric Analysis of Geological Materials and Its Application |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X-ray fluorescence spectrometry geological materials background curve |
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