双色测距技术及其在地壳形变监测中的应用 |
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引用本文: | 陈昌灏,齐乘光.双色测距技术及其在地壳形变监测中的应用[J].大地测量与地球动力学,1988(1). |
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作者姓名: | 陈昌灏 齐乘光 |
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作者单位: | 国家地震局地震研究所
(陈昌灏),国家地震局地震研究所(齐乘光) |
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摘 要: | 具有0.1ppm精度的双色测距仪是监测地壳形变的有效工具,也是当今光电测距仪的发展方向。本文分析了双色测距仪提高测距精度的原理及技术特点,列举了世界上各种双色测距仪的性能参数,给出了用双色测距仪测量地壳构造应变及监测地震活动的实例。
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