离子探针锆石U-Pb定年的“高U效应”

高U锆石的离子探针U-Pb分析中存在随U含量升高而表现更老的现象,称之为"高U效应"。本文尝试性总结了UPb衰变过程可造成锆石晶格的损伤、后期热愈合作用造成损伤锆石的结构变化、离子探针Pb/U离子化效率差异等因素,认为"高U效应"主要源于损伤锆石处于微尺度的混晶状态(晶态Zr SiO_4、ZrO_2和无定形SiO_2),放射成因Pb容易进入无定性SiO_2,而U进入ZrO_2,造成Pb/U离子化效率差与锆石情况不同。统计发现,高U锆石不仅表现为偏老的"高U效应",还受损伤导致Pb丢失的影响,结果存在较大不确定性,不适宜离子探针精确U-Pb定年,应在测试选点过程中避免,或选用其他矿物,如独居石、磷钇矿、榍石等代替。