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| 分光光度法中过量显色剂隐色的研究 Ⅱ.导数光谱法测定痕量硼 | |
| 引用本文： | 朱玉伦,邵济馨.分光光度法中过量显色剂隐色的研究 Ⅱ.导数光谱法测定痕量硼[J].岩矿测试,1986(4):259-262. |
| 作者姓名： | 朱玉伦 邵济馨 |
| 作者单位： | 地质科学研究院岩矿测试研究所 (朱玉伦)，地质科学研究院岩矿测试研究所(邵济馨) |
| 摘 要： | 前文研究了水相中铍试剂Ⅲ测定硼的最佳条件,建立了一个过量显色剂隐色新体系。本文在此基础上讨论了有关隐色速率和痕量硼的一阶导数分光光度测量。相当摩尔吸收系数为1.9×10~5L·mol~(-1)·cm~(-1)。将有关水相测定硼的方法与隐色体系做了比较,本法是迄今显色速度最快和灵敏度最高的方法。 |
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