|
|||||
|
|
| X射线荧光分析中基体效应的数学校正一例 | |
| 引用本文： | 吴建平.X射线荧光分析中基体效应的数学校正一例[J].物探化探计算技术,1988(3). |
| 作者姓名： | 吴建平 |
| 作者单位： | 成都地质学院 |
| 摘 要： | 一、概述 X射线荧光技术的定量分析数学方法早在五十年代就提出来了。六十年代随着半导体探测器的出现,多元素分析技术已经得到很大发展。利用数学方法对样品测量的结果进行基体效应的校正,这在室内用计算机处理是很容易实现的。但对野外使用的便携式仪器则比较困难。近年来,微型计算机技术的发展使X射线荧光技术在方法上得到完善, |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |