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| 用二次离子质谱仪（SIMS）对矿物中单个流体包裹体... | |
| 引用本文： | Diam.,LW 龙洪波.用二次离子质谱仪（SIMS）对矿物中单个流体包裹体...[J].地质地球化学,1992(1):47-54. |
| 作者姓名： | Diam. LW 龙洪波 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 矿物 流体 包裹体 元素分析 质谱仪 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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