| 用滤膜法进行稀土氧化物原料组分的X射线荧光光谱分析 |
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| 引用本文： | 肖德明.用滤膜法进行稀土氧化物原料组分的X射线荧光光谱分析[J].铀矿地质,1992(4). |
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| 作者姓名： | 肖德明 |
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| 作者单位： | 核工业北京地质研究院 |
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| 摘 要： | 本文叙述了用沉淀抽滤法制备薄试样,X射线荧光光谱法测定混合稀土氧化物原料组分的分析方法。本法定量下限为0.01％—0.17％,方法精度为0.85％—14.9％。对几种类型的原料分析结果表明,本法与ICP-AES法结果基本相符。方法简便快速,可用于混合稀土氧化物原料的成分分析。
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| 关 键 词： | X射线荧光 薄膜法 稀土氧化物 |
THIN-FILM METHOD-XRF DETERMINATION OF THE COMPOSITION OF RARE EARTH OXIDES |
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| Xiao Deming.THIN-FILM METHOD-XRF DETERMINATION OF THE COMPOSITION OF RARE EARTH OXIDES[J].Uranium Geology,1992(4). |
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| Authors: | Xiao Deming |
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| Institution: | Beijing Research Institute of Uranium Geology |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Thin-film method XRF Rare earth oxides |
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