| 理学3080E型X射线荧光光谱仪分辨率的改善 |
| |
| 引用本文： | 梁国立 马光祖. 理学3080E型X射线荧光光谱仪分辨率的改善[J]. 岩矿测试, 1998, 17(1): 75-78 |
| |
| 作者姓名： | 梁国立 马光祖 |
| |
| 作者单位： | 地矿部岩矿测试技术研究所 |
| |
| 摘 要： | 通过对理学３０８０Ｅ型Ｘ射线荧光光谱仪第二准直器的改造，使谱仪对ＳＫβ谱线的相对分辨率减少了近２０％，即改造后的谱仪分辨能力提高了近２０％，而且谱峰强度仍保持在较高水平。为开展硫等轻元素化学价态的分析研究与元素谱线互相重叠干扰复杂的试料分析提供了有利条件。
|
| 关 键 词： | X射线荧光光谱仪 分辨率 |
| 修稿时间： | 1997_03_10 |
Improvement of Resolution for Rigaku 3080E X_Ray Fluorescence Spectrometer |
| |
| Liang Guoli,Ma Guangzu,Luo Liqiang. Improvement of Resolution for Rigaku 3080E X_Ray Fluorescence Spectrometer[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, 17(1): 75-78 |
| |
| Authors: | Liang Guoli Ma Guangzu Luo Liqiang |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | X_ray fluorescence spectrometry resolution |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《岩矿测试》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《岩矿测试》下载全文 |
