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光谱角度填图方法及其在岩性识别中的应用
引用本文:王志刚,朱振海,王红梅,刘庆生. 光谱角度填图方法及其在岩性识别中的应用[J]. 遥感学报, 1999, 3(1): 60-65
作者姓名:王志刚  朱振海  王红梅  刘庆生
作者单位:中国科学院遥感应用研究所,北京,100101
摘    要:光谱角度填图(SAM)是成像光谱图像处理技术中,对岩石矿物进行谱形识别的主要方法之一,但其应用效果并不十分理想。以内蒙古渣尔泰山为实验区,从岩石实验室反射光谱的相似系数聚类分析入手,研究了光谱角度填图方法的优劣,及其产生的原因。探讨了利用均值图像参与分类的处理方案,从而改善了光谱角度填图方法中易于产生“异类同谱”的不足,获得良好的岩性识别效果。

关 键 词:成像光谱 岩性识别 光谱角度填图
收稿时间:1998-02-24
修稿时间:1998-08-20

Applications of Spectral Angle Mapping Method in Lithological Identification
WANG Zhi Gang,ZHU Zhen Hai,WANG Hong Mei and LIU Qing Sheng. Applications of Spectral Angle Mapping Method in Lithological Identification[J]. Journal of Remote Sensing, 1999, 3(1): 60-65
Authors:WANG Zhi Gang  ZHU Zhen Hai  WANG Hong Mei  LIU Qing Sheng
Affiliation:Institute of Remote Sensing Applications, Chinese Academy of Science Beijing 100101;Institute of Remote Sensing Applications, Chinese Academy of Science Beijing 100101;Institute of Remote Sensing Applications, Chinese Academy of Science Beijing 100101;Institute of Remote Sensing Applications, Chinese Academy of Science Beijing 100101
Abstract:
Keywords:Imaging spectra   Lithology mapping  
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