ICP-AES法在高品质硅石矿分析中的应用

传统的化学分析方法对高品质硅石矿(含量w≥96%)中的二氧化硅难以准确测定,使用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)可对硅石中Al_2O_3等10种杂质元素进行准确测定,结合样品烧失减量,利用差减法即可准确计算出硅石矿中二氧化硅的精确含量。该方法检测范围在0.00002%~10%,检出限下线为0.0004μg/m L~0.051μg/m L,精密度为0.82%~4.39%,准确度高相对误差小于4.17%。