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退火对B掺杂纳米金刚石薄膜微结构和电化学性能的影响
引用本文:潘金平,胡晓君,陆利平,印迟.退火对B掺杂纳米金刚石薄膜微结构和电化学性能的影响[J].海洋学报,2010,32(10):7410-7416.
作者姓名:潘金平  胡晓君  陆利平  印迟
作者单位:浙江工业大学化学工程与材料学院,杭州 310014;浙江工业大学化学工程与材料学院,杭州 310014;浙江工业大学化学工程与材料学院,杭州 310014;浙江工业大学化学工程与材料学院,杭州 310014
基金项目:国家自然科学基金(批准号:50602039, 50972129)和浙江省"钱江人才"计划(批准号:2010R10026)资助的课题.
摘    要:采用热丝化学气相沉积法制备B掺杂纳米金刚石薄膜,并对薄膜进行真空退火处理,系统研究了不同退火温度对B掺杂纳米金刚石薄膜的微结构和电化学性能的影响.结果表明,当退火温度升高到800 ℃后,薄膜的Raman谱图中由未退火时在1157,1346,1470,1555 cm-1处的4个峰转变为只有D峰和G峰,说明晶界上的氢大量解吸附量减少;并且D峰和G峰的积分强度比ID/IG值变为最小,即sp2相团簇

关 键 词:B掺杂纳米金刚石薄膜  微结构  电化学性能

Influence of annealing on the microstructure and electrochemicalproperties of B-doped nanocrystalline diamond films
Pan Jin-Ping,Hu Xiao-Jun,Lu Li-Ping and Yin Chi.Influence of annealing on the microstructure and electrochemicalproperties of B-doped nanocrystalline diamond films[J].Acta Oceanologica Sinica (in Chinese),2010,32(10):7410-7416.
Authors:Pan Jin-Ping  Hu Xiao-Jun  Lu Li-Ping and Yin Chi
Institution:College of Chemical Engineering and Material Science, Zhejiang University of Technology, Hangzhou 310014, China;College of Chemical Engineering and Material Science, Zhejiang University of Technology, Hangzhou 310014, China;College of Chemical Engineering and Material Science, Zhejiang University of Technology, Hangzhou 310014, China;College of Chemical Engineering and Material Science, Zhejiang University of Technology, Hangzhou 310014, China
Abstract:
Keywords:boron-doped nanocrystalline diamond films  microstructure  electrochemical properties
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