首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

我国静力触探技术应用中几个问题的综合
作者姓名:王家钧
作者单位:同济大学
摘    要:本文根据目前静探技术开展过程中,经常碰到的一些问题,结合实际情况提出一些看法,内容包括:(一)触探机的选择(二)探头的质量标准:探头的外形尺寸、测试技术标准。(三)原始资料的整理:原始记录曲线的校正,触探分层及分层阻力,触探报告书的内容。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号