X射线荧光测量中死时间的双误差回归法计算

X射线荧光分析用于主量元素的测量,探测器的计数率相当高。探测器的死时间对测量结果的影响十分显著。死时间的产生是由于探测器对脉冲的响应时间大于荧光仪的计数脉冲发射时间,造成的计数阻塞和计数丢失。可以用计数校正公式来校正:I_真=I_实/(1-I_实*t),t为死时间10~(-6)～10~(-8)(秒),当计数小于几个KCPS时,其影响很小。但是,当计数达到几十甚至上百的KCPS,死时间的精度将直接影响测量结果的准确性。