基于微测井约束的折射静校正方法在低幅目标区中的应用

针对D10JQ3D低幅目标区开展了基于微测井约束的折射静校正方法综合应用研究,利用微测井的速度、厚度信息,对折射法中的初始速度(V0)、折射界面定义等关键环节进行约束控制,其后应用微测井的单点静校正量对折射静校正量进行标定和约束校正,使最终静校正量误差控制在3 ms内,满足低幅目标区的地质综合研究需要,对其它探区静校正方法的综合应用也具一定借鉴意义。