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光学平行平板厚度的无损测量
引用本文:黄钉劲,徐昌杰.光学平行平板厚度的无损测量[J].测绘技术装备,2003,5(1):36-37.
作者姓名:黄钉劲  徐昌杰
作者单位:西安工业学院光电科学与工程系,710032
摘    要:本文介绍了一种用麦克尔逊干涉原理对光学平行平板厚度进行无损测量的测量装置详细阐述了其原理和测量步骤,零位的标定和精度的分析。有较强的实用性。

关 键 词:麦克尔逊干涉原理  光学平行平板  无损测量  厚度  零位  精度
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