| 应用光率体论述宝石折射率仪测试原理及其应用 |
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| 引用本文： | 孙先如,蒋小平,雷能忠,杜建国.应用光率体论述宝石折射率仪测试原理及其应用[J].安徽地质,1998(3). |
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| 作者姓名： | 孙先如 蒋小平 雷能忠 杜建国 |
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| 作者单位： | 安徽省宝玉石质量监督检验站，安徽省计划委员会ＧＩＳ中心，安徽省地质科学研究所 |
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| 摘 要： | 】应用晶体光学中的光率体原理对宝石折射仪测试应用问题作较为详尽的论述，特别对一轴晶、二轴晶宝石测试所遇到的各种现象作进一步全面探讨，并给予确切的解释。
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| 关 键 词： | 光率体 折射仪 应用原理 宝石测试 |
ON THE PRINCIPLE OF GEM REFRACTOMETER WITH THE AID OF INDICATRIX |
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| Sun Xianru,Jiang Xiaoping,Lei Nengzhong,Du Jianguo.ON THE PRINCIPLE OF GEM REFRACTOMETER WITH THE AID OF INDICATRIX[J].Geology of Anhui,1998(3). |
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| Authors: | Sun Xianru Jiang Xiaoping Lei Nengzhong Du Jianguo |
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| Institution: | Sun Xianru 1 Jiang Xiaoping 1 Lei Nengzhong 2 Du Jianguo 3 |
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| Abstract: | This paper describes in detail the principle that a gem refractometer works in view of indicatrix,and especially discusses on the phenomena when this device is used to measure uniaxial and biaxial crystals. |
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| Keywords: | indicatrix refractometer application principle gems testing |
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