| X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析 |
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| 引用本文： | 谭秉和, 孙伟莹. X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析[J]. 岩矿测试, 2000, (4): 245-248. |
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| 作者姓名： | 谭秉和 孙伟莹 |
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| 作者单位： | 北京科技大学化学系,北京 |
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| 摘 要： | 讨论了用普通的Ｘ射线荧光光谱仪，采用谱峰分解法和谱峰合成法对钒氧化物的混合物中氧化态Ｖ２Ｏ３、Ｖ２Ｏ４、Ｖ２Ｏ５的定量分析。谱峰分解法以每种钒氧化态的标准谱形函数为基础，用最小二乘法求解，而谱峰合成法则是以每种纯氧化态的测量谱线为基础，用定标技术求解，用上述法测定钒氧化物产品，其结果与化学法、电化学法的结果一致，最大相对误差为７．７％。
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| 关 键 词： | 价态分析 X射线荧光光谱法 钒氧化物 定量分析 |
| 修稿时间： | 1999-12-27 |
Quantitative Analysis of Valency States of Vanadium in Mixture of Vanadium Oxides by X-Ray Fluorescence Spectrometry |
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| Quantitative Analysis of Valency States of Vanadium in Mixture of Vanadium Oxides by X-Ray Fluorescence Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2000, (4): 245-248. |
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| Authors: | TAN Bing-he SUN Wei-ying |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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