| X射线荧光滤纸片法测定纯氧化铥中主量氧化铥及相邻稀土氧化物杂质 |
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| 引用本文： | 肖德明,李广明.X射线荧光滤纸片法测定纯氧化铥中主量氧化铥及相邻稀土氧化物杂质[J].铀矿地质,1992(5). |
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| 作者姓名： | 肖德明 李广明 |
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| 作者单位： | 核工业北京地质研究院，广东韶关商品检验局 |
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| 摘 要： | 本文拟定了一种采用滤纸片法制样,X射线荧光直接测定纯氧化铥中氧化铥主量以及氧化钬、氧化铒、氧化镱、氧化镥和氧化钇等稀土杂质含量的分析方法。其测定下限为:Tm_2O_30.11％、Ho_2O_30.20％、Er_2O_3 0.05％、Yb_2O_3 0.20％、Lu_2O_3 0.07％、Y_2O_3 0.40％。方法精度为0.2％～8.0％,对人工合成样品及试样分析结果表明方法准确度良好。方法操作简便快速、试剂耗费少、可用于稀土生产中低纯氧化铥产品的分析。
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| 关 键 词： | 滤纸片法 X射线荧光(XRF) 氧化铥 稀土杂质 |
DETERMINATION OF MAJOR(THULIUM)AND NEIGHBOURING RARE EARTH ELEMENT IMPURITIES IN PURE THULIUM OXIDE BY XRF-FLIM PAPER METHOD |
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| Xiao Deming.DETERMINATION OF MAJOR(THULIUM)AND NEIGHBOURING RARE EARTH ELEMENT IMPURITIES IN PURE THULIUM OXIDE BY XRF-FLIM PAPER METHOD[J].Uranium Geology,1992(5). |
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| Authors: | Xiao Deming |
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| Keywords: | Filter paper thin-film method XRF Thalium oxide RE impurities |
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