X—射线荧分析中饱和厚度与取样量的理论计算期刊界 All Journals 搜尽天下杂志传播学术成果专业期刊搜索期刊信息化学术搜索

按检索

X—射线荧分析中饱和厚度与取样量的理论计算

引用本文：	王光中,郭业勤.X—射线荧分析中饱和厚度与取样量的理论计算[J].地质实验室,1989,5(4):228-231.

作者姓名：	王光中郭业勤

作者单位：	不详

摘要：
关键词：	X射线荧光分析饱和厚度取样量
本文献已被维普等数据库收录！