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| 波长色散X射线荧光分析的新发展 | |
| 引用本文： | 北京岛津科学仪器中心.波长色散X射线荧光分析的新发展[J].岩矿测试,2003,22(4):311-314. |
| 作者姓名： | 北京岛津科学仪器中心 |
| 作者单位： | 北京岛津科学仪器中心 |
| 摘 要： | 除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外，进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析；开拓微区面分布的元素成像分析；进一步对传统分析因难的轻元素和中、重金属元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别是纳米材料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时，对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍。 |
| 关 键 词： | 波长色散 X射线荧光分析 元素成像分析 高级次谱线分析 薄膜分析 无标样分析 |
| 文章编号： | 0254-5357(2003)04-0311-04 |
Development of Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis |
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| Shimadzu.Development of Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis[J].Rock and Mineral Analysis,2003,22(4):311-314. | |
| Authors: | Shimadzu |
| Abstract: | |
| Keywords: | wavelength dispersive X-ray fluorescence (WD-XRF) micro-area elemental distribution image analysis (image-XRF) high order spectrum analysis method thin film analysis fundamental parameter (FP) method which quantitative analysis without standard samples |
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