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| 直接发射光谱法定量测定化探样品中的锶和钡 | |
| 引用本文： | 陈经梧.直接发射光谱法定量测定化探样品中的锶和钡[J].岩矿测试,1988(3):252-252. |
| 作者姓名： | 陈经梧 |
| 作者单位： | 浙江省测试技术研究所 |
| 摘 要： | 本文介绍一种发射光谱法测定化探样品中的锶和钡。作者采用石墨粉、二氧化硅、碳酸钠和碳酸钙为缓冲剂,铬作内标元素,以交流电弧激发,在一米光栅光谱仪上摄谱,可测定化探样品中20——10000ppm范围的锶和钡。实践证明,该法具有操作简便、结果可靠等特点,适合于日常分析中推广应用。 一、仪器 国产31WI型一米光栅光谱仪。 东德Zeiss GⅡ型测微光度计。 二、工作条件 1.标准基体由SiO_2-74,Fe_2O_3-5,Al_2O_3-12,CaO-2、MgO-2,K_2SO_4-3和Na_2CO_3-2(％)组成, |
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