多道X射线荧光方法在现代地层学研究中的初步应用 |
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引用本文: | 朱创业,丁益民.多道X射线荧光方法在现代地层学研究中的初步应用[J].中国区域地质,2000,19(2):205-209,221. |
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作者姓名: | 朱创业 丁益民 |
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摘 要: | 放射性同位素多道X荧光分析是一种核分析方法,具有快速、无损、低成本及多元素分析等优点。以华蓥山地区庙坝下三叠统嘉陵江组剖面为例,采用放射性同位素多道X荧光分析方法。测定了地层中Ca、Fe、Sr、Ba元素的照射率,并进行了化学地层和层序地层的初步研究,取得了较好的效果。
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关 键 词: | 化学地层学 层序地层学 地层学 多道X射线荧光 |
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