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| ZSX100e型X射线荧光光谱仪光路系统故障分析 | |
| 引用本文： | 陶迪,邓赛文,王笑笑,周超. ZSX100e型X射线荧光光谱仪光路系统故障分析[J]. 岩矿测试, 2014, 33(5): 773-774 |
| 作者姓名： | 陶迪 邓赛文 王笑笑 周超 |
| 作者单位： | 1. 国家地质实验测试中心,北京,100037 2. 浙江省地质矿产研究所,浙江杭州,310007 3. 钢研纳克检测技术有限公司,北京,100094 |
| 基金项目： | 国家重大科学仪器设备开发专项（2012YQ050076） |
| 摘 要： | 正X射线荧光光谱分析具有分析元素范围广、分析含量范围宽、分析精度高、重现性好等优点,属于非破坏性分析,可进行薄膜的组分和厚度的分析,易于实现自动化及在线分析,被广泛应用于电子和磁性材料、化学工业、陶瓷和水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境等领域。X射线荧光光谱仪基本由五大部分组成,即激发系统、分光系统、探测系统、仪器控制系统和数据处理系统等。分光系统是对来自样品元素的特征谱线进行分辨和限 |
| 关 键 词： | 荧光光谱仪 光路系统 ZSXe 非铁合金 分光系统 水泥工业 在线分析 非破坏性分析 激发系统 荧光光谱分析 |
| 收稿时间： | 2014-05-29 |
| 修稿时间： | 2014-07-08 |
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