钙质闪石11种阳离子占位度的X射线衍射测定

本义对前期[1][2]的理论分析成果进行修改和验证。前期曾用大量文献上的晶体结构参数仅演为理论的X射线树木图，从中选出若干条特征峰，用逐步回归方法对其强度比与钙质闪石的11种阳离子占位度问，建立一系列经验公式，用以估算未知的钙质冈石样品阳离子占位度，精度在85％－98％之间，多数阳离子精度超过90％．在闪石晶体化学研究上具有重要意义的阳离子如M1、M3位中Mg、Fe2＋、A位的K、三缺值Em及万位的Si等精度均超过90％；晶体化学类型定名的准确度达85％。成果表明，利用X射线衍射法估算闪石的阳离子占位在理论上是可能的。但还有待于用实测数据检验其可行性。本次工作的日的，便是以实测数据来验证前期理论成果并确定其可靠性。通过反复改变衍射圈上特征反射的选择和改变样本数，以实测结果验证各种组合建立的线性模型，所估算的各品位各种阳离子占位数的准确度在78％－96％之间，大多数大于80％，接近或超过90％的有八位的K、空缺值Em、位的Mg、Fe没＋及T位的Si等。晶体化学类型定名的准确度可达80％。但在建立线性模型时，必须将理沦计算的粉末国与实测阁一起进行统计。所选用的实测样品愈多，该族矿物种后愈广...