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X射线荧光技术在锑矿上的应用
引用本文:章晔,谢庭周,周四春.X射线荧光技术在锑矿上的应用[J].地质与勘探,1985(5).
作者姓名:章晔  谢庭周  周四春
作者单位:成都地质学院 (章晔,谢庭周),成都地质学院(周四春)
摘    要:应用轻便X射线荧光仪和X射线荧光测井仪,在我国某锑矿上进行了试验.对锑矿粉末样品、锑的化探样品、原始产状锑矿X射线取样、块状岩心及充满泥浆的锑矿钻孔进行了分析测量,并与化学分析比较,结果十分一致.特别是在消除基体效应方面取得了良好的效果. 放射性同位素X射线荧光技术在地质勘探工作中应用的特点是:仪器轻便,射线防护简单,操作容易,便于现场使用,测量速度快,对样品中元素含量能进行定量或半定量测定.在普查找矿阶段,可用来对某些地质远景地段进行及时检查,从而加速岩体评价.在化探工作中,可对中等强度以上的化探分散晕异常地段和水系底部沉积物的淘洗重矿物进行半定量或定量测量,

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