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基于漏检概率的RAIM可用性分析方法
引用本文:陈金平,周建华,唐波. 基于漏检概率的RAIM可用性分析方法[J]. 测绘科学技术学报, 2005, 22(1): 8-10
作者姓名:陈金平  周建华  唐波
作者单位:清华大学,精密仪器与机械学系,北京,100084;北京环球信息应用开发中心,北京,100094;北京环球信息应用开发中心,北京,100094
摘    要:描述了通常基于单故障假设相应的HPL或VPL的计算模型,针对WAAS用户在应用RAIM时需要顾及多故障的情况,提出了基于漏检概率的可用性分析方法,并通过模拟计算得到一些结论.

关 键 词:完好性  可用性  RAIM  多故障
文章编号:1009-427X(2005)01-0008-03
修稿时间:2004-07-02

The RAIM Availability Analysis Method Based on the Probability of Missed Detection
CHEN Jin-ping,ZHOU Jian-hua,TANG Bo. The RAIM Availability Analysis Method Based on the Probability of Missed Detection[J]. Journal of Zhengzhou Institute of Surveying and Mapping, 2005, 22(1): 8-10
Authors:CHEN Jin-ping  ZHOU Jian-hua  TANG Bo
Abstract:
Keywords:
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