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等温结晶化条件对氟化孔洞聚丙烯膜电荷稳定性的显著影响
引用本文:姚俊兰,安振连,毛明军,张冶文,夏钟福. 等温结晶化条件对氟化孔洞聚丙烯膜电荷稳定性的显著影响[J]. 海洋学报, 2010, 32(9): 6508-6513
作者姓名:姚俊兰  安振连  毛明军  张冶文  夏钟福
作者单位:同济大学波耳固体物理研究所,上海 200092;同济大学波耳固体物理研究所,上海 200092;同济大学波耳固体物理研究所,上海 200092;同济大学波耳固体物理研究所,上海 200092;同济大学波耳固体物理研究所,上海 200092
基金项目:国家自然科学基金(批准号:50677043)资助的课题.
摘    要:基于开路热刺激放电电流和电荷等温衰减测量系统地研究了等温结晶化条件对氟化孔洞聚丙烯(PP)膜电荷稳定性的影响.结果表明等温结晶化温度和时间对氟化PP膜的电荷稳定性或电荷陷阱的构造具有显著的影响,即使90 ℃,0.5 h的等温结晶化处理也能显著地加深其电荷陷阱、改善电荷的稳定性.而且随着等温结晶化温度的提高和时间的延长,电荷陷阱进一步被加深、电荷稳定性进一步被改善,如130 ℃,2 h以上的等温结晶化情形.衰减全反射红外分析和宽角X射线衍射分析表明,电荷稳定性的改善归因于PP膜的组成和结构变化.

关 键 词:孔洞聚丙烯膜  电荷稳定性  氟化  等温结晶化条件
修稿时间:2010-01-05

Significant influence of isothermal crystallization conditions on charge stability of fluorinated cellular polypropylene films
Yao Jun-Lan,An Zhen-Lian,Mao Ming-Jun,Zhang Ye-Wen and Xia Zhong-Fu. Significant influence of isothermal crystallization conditions on charge stability of fluorinated cellular polypropylene films[J]. Acta Oceanologica Sinica (in Chinese), 2010, 32(9): 6508-6513
Authors:Yao Jun-Lan  An Zhen-Lian  Mao Ming-Jun  Zhang Ye-Wen  Xia Zhong-Fu
Affiliation:Phoe Institute of Solid State Physics, Tongji University, Shanghai 200092, China;Phoe Institute of Solid State Physics, Tongji University, Shanghai 200092, China;Phoe Institute of Solid State Physics, Tongji University, Shanghai 200092, China;Phoe Institute of Solid State Physics, Tongji University, Shanghai 200092, China;Phoe Institute of Solid State Physics, Tongji University, Shanghai 200092, China
Abstract:
Keywords:cellular polypropylene film  charge stability  fluorination  isothermal crystallization conditions
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