半微量硅酸盐地质样品的X射线荧光光谱分析 |
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引用本文: | 茅祖兴.半微量硅酸盐地质样品的X射线荧光光谱分析[J].岩石学报,1986,2(1). |
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作者姓名: | 茅祖兴 |
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作者单位: | 中国科学院地质研究所 |
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摘 要: | 利用X射线荧光光谱分析硅酸盐地质样品,取样的重量通常要几百毫克(一般情况下400—1000毫克)。但是在某些情况下,由于没有足够数量的样品用于通常的X射线荧光分析,因此必须利用某些特殊的方法。在这些特殊的方法中,除了使用X射线荧光探针法之外(Rose等,1969),通常采用各种薄样法。其中最简便的方法是将磨细的样品粉末,均匀地
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