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新一代手提式多元素X荧光仪在地质普查中的应用
引用本文:林延畅,葛良全,赖万昌. 新一代手提式多元素X荧光仪在地质普查中的应用[J]. 物探与化探, 2002, 26(4): 325-328
作者姓名:林延畅  葛良全  赖万昌
作者单位:成都理工大学应用核技术与自动化工程学院,四川,成都,610059
基金项目:国际原子能机构CRP项目“现场X射线荧光技术在矿产勘查中应用”(编号 :IAEA113 0 5 /R0 R1)的资助,国土资源部地调项目“新一代手提式高灵敏度X射线荧光仪的研制”(编号 :2 0 0 0 2 0 10 0 0 2 116) “X荧光技术的完善与示范”(编号 :2 0 0 12 0 10 0 83 )的部分研究
摘    要:现场X射线荧光分析的主要影响因素是基体效应,湿度效应和不平度效应等。基于室内、野外大量实验,结合软件技术,在新一代手提式元素X荧光仪中,综合运用强度影响系数法、特散比及经验系数法,使多元素现场X荧光快速分析技术取得实用性进展。地质大调查中,在样品多元快速测试,野外土壤、岩石的原位分析,异常追索查证等方面的应用,充分体现出轻便、快速、高效、低投入的效果。

关 键 词:原位X荧光分析 干扰因素 地质普查 基体效应 湿度效应 土壤 岩石 不平度效应
文章编号:1000-8918(2002)04-0325-04

THE APPLICATION OF PORTABLE MULTI-ELEMENT XRF ANALYZER TO GEOLOGICAL SURVEY
LIN Yan chang,GE Liang quan,LAI Wan chang. THE APPLICATION OF PORTABLE MULTI-ELEMENT XRF ANALYZER TO GEOLOGICAL SURVEY[J]. Geophysical and Geochemical Exploration, 2002, 26(4): 325-328
Authors:LIN Yan chang  GE Liang quan  LAI Wan chang
Abstract:In situ X ray fluorescence analysis may be subjected to some interference factors, such as matrix effect, humidity and unevenness effect. This paper employs the Intensity Influent Coefficient Method and the Characteristic to Scattering Ratio Coefficient Method for the correction of matrix effect, the Scattering Correction Method for the humidity effect, and Characteristic to Scattering Ratio as the basic parameter for unevenness. All these means have been integrated in a portable multi element XRF analyzer. The analyzer and the techniques were successfully applied to determining concentrations of K, Ca, Ti, Mn, Fe, Cu, Zn, Sr, Pb, in rock outcrops and soil of four copper prospecting areas and have been proved to be of high efficiency and low cost.
Keywords:n situ XRF analysis  interference factors and correction  geological survey  follow up for anomaly  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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