首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

一种新的位移量测技术—CCD画像处理法
作者姓名:任伟中 永井哲夫
摘    要:
讨论了模型试验中各种位移量测技术的优缺点,介绍了一种新型的位移量测技术-CCD画像处理法的基本原理和方法,并将其应用到小块体堆砌成的节理岩体断面模型试验中。该方法具有设备简单,操作方便对环境条件要求较低,自动化程度高,精度较高等优点。

关 键 词:CCD画像处理 位移量测 模型试验 岩石变形
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号