笔石组成与结构的微区分析 |
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引用本文: | 刘大锰,侯孝强.笔石组成与结构的微区分析[J].矿物学报,1996,16(1):53-57. |
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作者姓名: | 刘大锰 侯孝强 |
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作者单位: | 中国地质大学!北京,10083,中国矿业大学北京研究生部!北京,100083,中国矿业大学北京研究生部!北京,100083 |
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摘 要: | 采用显微傅立叶红外光谱(Micro-FT-IR)和装有液体金属离子枪的高分辨飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)首次研究了笔石的化学组成与结构。Micro-FT-IR谱图在1680~1740cm-1和1000~1320cm-1范围内吸收强度高,而1600cm-1处吸收强度低.表明笔石是由含N、O等杂质原子基团的高分子聚合物组成,且该笔石热演化程度不高;TOF-SIMS谱图表明,笔石的二次离子峰主要集中在较低质量数处,在高质量数峰强度低,且M/Z43,105,135等峰强度高,亦证实笔石的上述组成特点。研究结果表明Micro-FT-IR和TOF-SIMS技术是煤及源岩显微组分微区成分分析的有力工具。
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关 键 词: | 笔石 组成 结构 生物岩 微区分析 |
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