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| 微孔滤膜制片X射线荧光光谱法测定矿石中银 | |
| 引用本文： | 郑厚琳, 秦星临. 微孔滤膜制片X射线荧光光谱法测定矿石中银[J]. 岩矿测试, 1992, (3): 217-220. |
| 作者姓名： | 郑厚琳 秦星临 |
| 作者单位： | 中国有色金属工业总公司北京矿产地质研究所 100012(郑厚琳)，中国有色金属工业总公司北京矿产地质研究所 100012(秦星临) |
| 基金项目： | 有色总公司科研基金项目内容之一 |
| 摘 要： | 在氨性介质中以水合联氨还原,Au兼作载体和内标,微孔滤膜制片,XRF测定Ag的方法应用于银矿标准物质及铜矿、铅锌矿、低品位金矿样品中x～xxxμg/g含量Ag的测定。分析结果的RSD优于3％,准确度与常规方法相当。 |
| 关 键 词： | 矿石 银 X射线 荧光光谱 微孔滤膜 |
X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Silver in Ores Following Precipitation on Microporous Film |
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| X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Silver in Ores Following Precipitation on Microporous Film[J]. Rock and Mineral Analysis, 1992, (3): 217-220. | |
| Authors: | Zheng Honlin Qin Xinglin |
| Abstract: | |
| Keywords: | hydrazine hydrate reduction precipitate microporous film X-ray fluorescence spectrometry (XRF) silver |
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